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RDV Fiabilité du CFF – Mars 2022 – Éligibilité des éléments de batterie lithium-ion issus de véhicules électriques pour une réutilisation en seconde vie.

Intervenant : Mr William WHEELER, du Laboratoire AMPERE Description : La thèse porte sur la mise en place d'un processus de sélections de batteries issu de véhicules industriels pour une réutilisation dans une nouvelle application en seconde vie. La sélection nécessite de pronostiquer le reste de vie possible pour une nouvelle application en vue de […]

RDV Fiabilité du CFF – Mai 2022 – Tenue aux radiations

Les composants électroniques sont sensibles à l’environnement dans lequel ils évoluent
et de nombreux facteurs peuvent être à l’origine de leur dysfonctionnement. C’est le cas des
radiations naturelles, avec principalement les ions lourds, protons et neutrons. Initialement,
l’étude de l’effet des radiations sur les composants électroniques était principalement un sujet
de préoccupation pour les applications spatiales. Les composants électroniques utilisés étaient
alors pour la plupart des composants spécifiques durcis aux contraintes du domaine spatial.
Au début des années 90, l’intégration des technologies et les besoins croissants en
électronique ont conduit à s’intéresser aux effets des radiations au niveau des altitudes
avioniques puis au niveau du sol. En même temps, pour des raisons économiques, les filières
de fabrication des composants durcis ont été délaissées. De nombreux composants
commerciaux (COTS) sont maintenant embarqués à bord des satellites, lanceurs ou avions.

Séminaire CFF : Autour de la température de jonction

Carte blanche autour de la température de jonction "Sur un composant électronique, la température de jonction est la température locale de la zone de silicium qui forme la jonction. Cette température est supérieure à la température extérieure du boitier. La relation entre la température de jonction et la température externe du composant est donnée par la loi d'Ohm thermique." Lieu : […]

Séminaire CFF

Rouen

Thématique : Avancée des travaux et projets sur la fiabilité des technologies Wide Band Gap (WBG) Lieu : Technopôle du Madrillet Avenue de l'Université, 76800 Saint-Étienne-du-Rouvray au sein de l’Université de Rouen et du laboratoire GPM PROGRAMME :  14:00 0:30 Accueil au GPM et formalités d’accès (zone sécurisée) 14:30 1:00 Visite du GPM 15:30 1:20 […]

5e éd. NRTW [National Reliability Technology Workshop]

Rouen

Thématique : La température dans la fiabilité des systèmes et des composants électroniques Lieu : Technopôle du Madrillet Avenue de l'Université, 76800 Saint-Étienne-du-Rouvray au sein de l’Université de Rouen et du laboratoire GPM Détail et programme : consulter le page dédiée, ici.

RDV Fiabilité du CFF – Avril 2023

Sujet : Modèles électrothermiques en utilisant des outils numériques pour faire le lien entre le stress électrique appliqué et la température dans le composant Intervenant : Abdelkhalak EL HAMI (LMN, UR 2838, INSA Rouen Normandie) Gratuit Visioconférence : WebEx Inscription obligatoire : ici  

Séminaire CFF “live” au Salon aéronautique du Bourget

Délégation CFF au Salon du Bourget 2023 - Paris Airshow /!\ Une fois n'est pas coutume, ce  Séminaire CFF se tiendra en présentiel, lors de la journée d'ouverture du Salon du Bourget 2023 - Paris Airshow, le lundi 19 juin 2023.  Nous vous proposons pour ce séminaire CFF de juin 2023 de l’organiser au salon du Bourget afin que vous […]