RDV Fiabilité du CFF – Novembre 2023 – GeePs

Les Rendez-Vous Fiabilité du CFF sont un évènement organisé en visioconférence au cours duquel nous vous présentons une compétence et un projet collaboratif dans l’une des thématiques du CFF. Accès gratuit en visioconférence

Une fois n’est pas coutume, ce Rendez-Vous Fiabilité du CFF est couplé à une Tech Hour dédiée à la Fiabilité électronique :  nous vous présentons une compétence portée par l’un des membre du CFF. Accès gratuit en visioconférence. Le CFF, le Centre Français de Fiabilité, c’est un Regroupement d’experts de la fiabilité des systèmes et des composants électroniques. Il regroupe à l’échelle nationale, des entités académiques et industriels, des laboratoires et des unités de recherche, de grands groupes et des PME/ETI.

La vocation du CFF est de mettre en relation les acteurs compétents pour la résolution de problèmes techniques et/ou technologiques liés à la « Fiabilité », de créer des synergies entre les compétences, les moyens et les utilisateurs.

Tous les secteurs sont concernés par la fiabilité : l’automobile, l’aérospatiale, la défense, le ferroviaire, …

Cette session sera assurée par le laboratoire GeePs, CNRS UMR 8507.

2 sujets seront présentés au cours de cette session :

• La mesure de résistivité sans contact d’un wafer
• Le fonctionnement du silicium à haute température

par

• Tanguy.Phulpin@centralesupelec.fr, Maitre de Conférence à CentraleSupélec et au Laboratoire GeePs
• Florent.Loete@centralesupelec.fr
• Pietro.Marisferreira@centralesupelec.fr

Le laboratoire GeePs de Génie électrique et électronique de Paris est réparti en 3 pôles (Energie, Electronique et Matériaux Physique et composants). Il regroupe plus de 130 permanents et 80 doctorants sur des thèmes allant de la modélisation électromagnétique jusqu’à la conversion d’énergie.

Le laboratoire possède de nombreux appareils dédiés à l’analyse de fiabilité des semi-conducteurs et des contacts électriques. Plusieurs domaines sont étudiés tels que l’intégration des composant grands gaps à travers diverses topologies de convertisseur, leur fiabilité, leur commande et leur problématique CEM, et sur le design de composants passifs.